[发明专利]光电检测半导体器件、光电检测器和图像显示装置

摘要

本发明名称为光电检测半导体器件、光电检测器和图像显示装置。透射待检测的光并且具有导电性的屏蔽设置在光电二极管(1和2)的光接收表面上，以防止光电二极管(1和2)由于从外部进入的电磁波而感生电荷。具有取决于光的波长的透光率的两种滤光件分别设置在光电二极管(1和2)的光接收表面上，从而取它们光谱特性之间的差。屏蔽和滤光件可由例如多晶硅或者给定导电类型的半导体薄膜来制成，并且可易于通过将那些制造工艺结合到半导体制造工艺中来制造。

主权项

1. 一种光电检测半导体器件，包括：第一光接收元件，其具有第一导电类型的半导体衬底以及由第二导电类型的半导体形成的以距离所述半导体衬底表面给定深度来设置的第一导通层；第二光接收元件，其具有所述半导体衬底以及由所述第二导电类型的半导体形成的以距离所述半导体衬底表面所述给定深度来设置的第二导通层；第一滤光层，其具有依赖于光的波长的透光率，其设置在所述第一导通层表面上；以及第二滤光层，其透光率的依赖关系与所述第一滤光层的依赖关系不同，其设置在所述第二导电层表面上，其中，通过使用所述第一光接收元件中积累的电荷与所述第二光接收元件中积累的电荷之间的差来检测光强度。