[发明专利]基于原子力显微镜的精确定位方法无效

专利信息
申请号: 200810197696.6 申请日: 2008-11-19
公开(公告)号: CN101413865A 公开(公告)日: 2009-04-22
发明(设计)人: 李立家;马璐 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01N13/16 分类号: G01N13/16;G12B21/20
代理公司: 武汉华旭知识产权事务所 代理人: 刘 荣
地址: 43007*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种原子力显微镜的精确定位的方法,该方法先通过相差光学显微镜找到待测样品,在相差光学显微镜下将具有网格的薄片放到待测样品上方,记录样品所在的区域,利用吸附力将薄片吸到样品的基底上,然后将吸附了薄片的基底用双面胶粘贴到原子力显微镜载物台上,用原子力显微镜扫描具有网格的薄片,逐级缩小扫描范围,将原子力显微镜的探针定位在待测样品对应格子的上方,最后用洗耳球将薄片轻轻吹开,即可下针进行准确的原子力显微镜的观察。本发明操作简单,无需制作任何外用器材,非常快捷地精确定位待扫描的样品。
搜索关键词: 基于 原子 显微镜 精确 定位 方法
【主权项】:
1、一种基于原子力显微镜的精确定位方法,其特征在于包括以下步骤:(1)在光学显微镜下找到待测样品;(2)在光学显微镜下将具有网格的薄片放到待测样品上方,记下样品所在的区域,利用吸附力将具有网格的薄片吸到样品的基底上;(3)将附着了薄片的基底用双面胶粘贴到原子力显微镜载物台上;(4)用原子力显微镜扫描薄片,逐级缩小扫描范围,将原子力显微镜的探针定位在步骤(2)中记录的样品所在的区域,即待测样品对应格子的上方,即实现了对待测样品的精确定位。
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