[发明专利]一种非极性GaN薄膜的生长方法有效

专利信息
申请号: 200810200459.0 申请日: 2008-09-25
公开(公告)号: CN101358337A 公开(公告)日: 2009-02-04
发明(设计)人: 周健华;郝茂盛;颜建锋;潘尧波;周圣明 申请(专利权)人: 上海蓝光科技有限公司;彩虹集团公司;中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/52
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 余明伟
地址: 201203上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种非极性氮化镓(GaN)薄膜的生长方法,其利用金属有机物化学气相淀积(MOCVD)系统在铝酸锂(LiAlO2)衬底上合成生长GaN薄膜,其中,在生长GaN薄膜之前,首先在铝酸锂衬底背面背镀二氧化硅(SiO2)或氮化硅(Si3N4),一方面起应力平衡的作用,另一方面可以阻止衬底的分解,如Li的挥发等。
搜索关键词: 一种 极性 gan 薄膜 生长 方法
【主权项】:
1.一种非极性GaN薄膜的生长方法,其利用MOCVD系统在铝酸锂衬底上合成生长,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤一:在铝酸锂衬底背面背镀二氧化硅(SiO2)或氮化硅(Si3N4);步骤二:利用MOCVD系统在铝酸锂衬底上合成生长非极性GaN薄膜。
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