[发明专利]双色单光子横向超分辨成像的方法和装置

摘要

一种双色单光子横向超分辨成像的方法和装置，该方法最大的特点是采用敏化光束和激发光束的重叠部分同时敏化和激发被可逆光敏荧光蛋白分子标记的样品，才能实现荧光激发。物镜收集荧光信号，经过敏化双色镜和激发双色镜以及陷波滤光片和长通滤光片，最后由聚焦透镜聚焦通过一个小孔光阑由雪崩二极管测量荧光强度，计算机记录荧光强度值，计算机关闭快门使可逆光敏荧光蛋白在敏化光照明下恢复到可激发态，计算机驱动三维平移台移动可逆光敏荧光蛋白标记的样品，实现三维扫描成像。本发明可提高超分辨荧光成像的横向分辨率1.55-2.81倍。

主权项

1、一种双色单光子横向超分辨成像的方法，其特征是采用两束激光分别作为敏化光和激发光，利用聚焦后两束光的点扩散函数重叠部分同时敏化和激发被可逆光敏荧光蛋白分子标记的样品(4)，被激发的荧光信号通过陷波滤光片(14)和长通滤光片(15)过滤由聚焦透镜(16)聚焦，经过一个小孔光阑(17)滤除背景噪声被雪崩二极管(18)收集，计算机(19)记录荧光信号强度数值，接下来计算机(19)关闭快门(9)阻挡所述的激发光，使所述样品上的可逆荧光蛋白分子在敏化光的作用下恢复到可激发态，每测量完所述样品(4)的一个测量点后，计算机(19)驱动三维平移台(20)移动所述样品(4)至下一个待测量点，所述的快门(9)在计算机(19)的控制下再次打开，重复上述测量过程，计算机(19)依次获取所述样品(4)的所有测量点的荧光信号强度值，然后由计算机(20)根据所采集的所有测量点的荧光信号强度值按几何位置排列重构，获得所述的样品(4)的三维图像。