[发明专利]一种粒子分类统计方法及装置有效
| 申请号： | 200810216210.9 | 申请日： | 2008-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN101672759A | 公开（公告）日： | 2010-03-17 |
| 发明（设计）人： | 何延峰;聂志华;祁欢 | 申请（专利权）人： | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01N33/48 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭 燕 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种粒子分类统计方法，适用于粒子检测仪对粒子进行分类统计，所述方法包括以下步骤：A1、收集每个粒子在检测仪中产生的至少两种特征；B1、选择其中的两种特征将其表征为二维向量，并映射到二维散点图上；C1、在所述散点图上划分出需要分类统计的各种类粒子的分布区域；D1、计算各个区域内粒子的分布函数；E1、根据各个区域内的粒子分布函数对所有区域的粒子进行分类统计。本发明能自动调整分类边界的尺寸、形状、方向和位置，具有很强的准确性和稳定性，提高了散点图分类方法对异常样本的适应能力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粒子 分类 统计 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种粒子分类统计方法，适用于粒子检测仪对粒子进行分类统计，其特征在于所述方法包括以下步骤：A1、收集每个粒子在检测仪中产生的至少两种特征；B1、选择其中的两种特征将其表征为二维向量，并映射到二维散点图上；C1、在所述散点图上划分出需要分类统计的各种类粒子的分布区域；D1、计算各个区域内粒子的分布函数；E1、根据各个区域内的粒子分布函数对所有区域的粒子进行分类统计。
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