[发明专利]一种等离子体增强式化学气相沉积处理方法有效

专利信息
申请号: 200810222116.4 申请日: 2008-09-09
公开(公告)号: CN101671817A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 徐强;蔡明 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: C23C16/513 分类号: C23C16/513
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 代理人: 宋志强;麻海明
地址: 100176北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种等离子体增强式化学气相沉积处理方法,对晶圆衬底依次进行稳定化处理、沉积处理、氢去除处理、净化处理和起片处理后,得到晶圆衬底上的薄膜,该方法还包括:在沉积处理和氢去除处理之间进行净化处理。本发明提供的方法在每次沉积晶圆的衬底上薄膜时,去除薄膜表面的氢含量,从而使得最终得到的晶圆衬底上薄膜的张应力增大。
搜索关键词: 一种 等离子体 增强 化学 沉积 处理 方法
【主权项】:
1、一种等离子体增强式化学气相沉积处理方法,对晶圆衬底依次进行第一稳定化处理、沉积处理、氢去除处理、第一净化处理和起片处理后,得到晶圆衬底上的薄膜,其特征在于,该方法还包括:在沉积处理和氢去除处理之间进行第二净化处理。
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