[发明专利]测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 200810223446.5 申请日: 2008-09-27
公开(公告)号: CN101685207A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 黄婕妤;于洪俊;吴昊 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13;G01R31/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人: 刘 芳
地址: 100176北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种测试方法及装置,该测试方法包括:设定一系列测试电压值,所述测试电压值从小到大依次为第一电压值、第二电压值、......、第N-1电压值、第N电压值;向液晶显示面板提供测试电压,提供所述测试电压的次序为第N电压值、第一电压值、第N-1电压值、第二电压值、......;分别测量所述测试电压值下的所述液晶显示面板的透过率。使液晶分子在测试电压的作用下,交替对称正反向偏转,起到在较短的时间间隔内恢复液晶分子形变的作用,减小测试数据的误差,提高VT曲线的准确性,能够为伽马调谐提供较高精度的数据。
搜索关键词: 测试 方法 装置
【主权项】:
1、一种测试方法,其特征在于包括:设定一系列测试电压值,所述测试电压值从小到大依次为第一电压值、第二电压值、......、第N-1电压值、第N电压值;向液晶显示面板提供测试电压,提供所述测试电压的次序为第N电压值、第一电压值、第N-1电压值、第二电压值、......;分别测量所述测试电压值下的所述液晶显示面板的透过率。
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