[发明专利]一种用高温激光显微镜测量奥氏体晶粒尺寸的方法有效
申请号: | 200810227821.3 | 申请日: | 2008-11-28 |
公开(公告)号: | CN101413786A | 公开(公告)日: | 2009-04-22 |
发明(设计)人: | 温娟;刘晓岚;鞠新华;罗家明;李琪;史学星 | 申请(专利权)人: | 首钢总公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01N15/02 |
代理公司: | 北京华谊知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘月娥 |
地址: | 100041北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种用高温激光显微镜测量奥氏体晶粒尺寸的方法,属于金属材料及热处理检验方法领域。工艺步骤为:制备合适尺寸的试样,经粗研磨、细研磨、抛光、清洗,然后放于高温激光显微镜加热炉内准备试验。试验操作:先于软件内制定好合适的试验程序,对试样进行加热、保温等试验。试验完毕后,储存试验的视频结果。在测试过程中用高温激光的控制器里的测量功能进行实时温度的奥氏体晶粒尺寸的测量,据标准进一步评定奥氏体晶粒度。优点在于,该方法解决了部分钢种奥氏体晶粒显示困难问题,能直观、清晰地显示奥氏体晶粒照片,进行晶粒尺寸的测量;适用于金属材料在加热到Ac3点以上奥氏体单相区域内的奥氏体晶粒尺寸测量。 | ||
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【主权项】:
1. 一种用高温激光显微镜测量奥氏体晶粒尺寸的方法,包括试样制备、设定程序进行试验和晶粒尺寸的测量三步骤:(1)试样制备据试验设备的需要,试样首先切割成直径8mm,高3.5mm的圆柱形状,试样上下表面一定要保持平整平行,然后试样按金相制样方法进行磨制、抛光后,再放进超声波清洗器里用丙酮进行清洗,吹干,试样制备完毕,放进加热炉里面的Al2O3坩埚里进行加热;(2)试验过程根据试验目的及试样的含碳量及化学成分,制定试验程序,试验程序的设定包括加热速度、加热所需达到的温度以及所需的保温时间;本方法显示原始的奥氏体晶粒尺寸,需要试样加热到材料的奥氏体相变的温度,Ac3点以上奥氏体单相存在的温度范围内;试验之前设备需要进行抽真空操作,试验过程中需不断充入Ar气,防止试样在试验过程被氧化;试验完毕后,保存试验记录的视频结果;(3)奥氏体晶粒尺寸的测量晶粒尺寸的测定,从视频结果里抓取图片,参照图片的标尺用金相图像仪软件先进行标尺转换,再用常规的截点法或面积法,按照标准GB/T6394—2002进行测量。
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