[发明专利]一种烧结钕铁硼永磁体在工作温度下拐点位置的检测方法无效

专利信息
申请号: 200810228239.9 申请日: 2008-10-23
公开(公告)号: CN101393166A 公开(公告)日: 2009-03-25
发明(设计)人: 唐任远;孙宁;陈丽香;刘超 申请(专利权)人: 沈阳工业大学
主分类号: G01N27/72 分类号: G01N27/72
代理公司: 沈阳东大专利代理有限公司 代理人: 梁 焱
地址: 110178辽宁省沈阳*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种烧结钕铁硼永磁体在工作温度下拐点位置的检测方法,按如下步骤进行:计算出烧结钕铁硼永磁体在工作温度下的磁性能,其中工作温度的范围为120℃~180℃;根据设定的烧结钕铁硼永磁体的拐点,及计算得到的磁性能,求解烧结钕铁硼永磁体的工作点,并得到硅钢片的垫放方法和数量;测量烧结钕铁硼永磁体常温下的表面磁密;将烧结钕铁硼永磁体放在高温箱内加热至试验温度;试验结束后,测量烧结钕铁硼永磁体在与实验前一致的温度下的磁性能,判断烧结钕铁硼永磁体是否发生退磁;重复试验得到烧结钕铁硼永磁体在工作温度下拐点所处的范围。本检测方法不需要贵重的永磁体检测设备,不受到钕铁硼永磁体尺寸限制,成本低、易实现。
搜索关键词: 一种 烧结 钕铁硼 永磁体 工作温度 拐点 位置 检测 方法
【主权项】:
1、一种烧结钕铁硼永磁体在工作温度下拐点位置的检测方法,其特征在于按如下步骤进行:A、计算出烧结钕铁硼永磁体在工作温度下的磁性能,其中工作温度的范围为120℃~180℃;B、根据设定的烧结钕铁硼永磁体在工作温度下的拐点,及计算得到的烧结钕铁硼永磁体在工作温度下的磁性能,采用有限元法计算烧结钕铁硼永磁体的工作点,并通过改变硅钢片数量来改变烧结钕铁硼永磁体的工作点,得到硅钢片的垫放方法和数量;C、测量烧结钕铁硼永磁体常温下的表面磁密,选择至少一个位置进行测量,并对测量位置进行标记;D、将烧结钕铁硼永磁体放在高温箱内加热至试验温度,试验温度和硅钢片的垫放方法及数量,都与有限元软件计算时相同,试验样品在工作温度下暴露的持续时间从高温箱指示的温度达到稳定时算起,试验持续时间为2小时;E、试验结束后,测量烧结钕铁硼永磁体在与试验前一致的温度下的磁性能,判断烧结钕铁硼永磁体是否发生退磁;F、根据试验结果调节硅钢片数量,重复试验得到烧结钕铁硼永磁体在工作温度下的拐点所处的范围。
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