[发明专利]制备X荧光分析用玻璃熔片的玻璃化试剂及其使用方法有效
| 申请号： | 200810233919.X | 申请日： | 2008-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN101509847A | 公开（公告）日： | 2009-08-19 |
| 发明（设计）人： | 王必山;郭峰 | 申请（专利权）人： | 马鞍山钢铁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/223 |
| 代理公司： | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 | 代理人： | 徐 晖 |
| 地址： | 243003安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了制备X荧光分析用玻璃熔片的玻璃化试剂，由无水四硼酸锂或无水四硼酸锂和偏硼酸锂的混合物与硼酸组成。其使用方法为，X荧光分析时，在冶金熔剂中加入无水四硼酸锂或无水四硼酸锂和偏硼酸锂的混合物后，再加入分析纯的硼酸；或可以按一定的配比，预先让硼酸与无水四硼酸锂或无水四硼酸锂和偏硼酸锂的混合物充分混合，制成快速熔融的玻璃化试剂再与冶金熔剂混合。本发明分析结果准确稳定且大大缩短了冶金熔剂的分析周期，分析周期由一个多小时缩短至最快十五分钟左右，使冶金熔剂X荧光快速分析成为现实；本发明能大大降低熔片成本，根据目前市场价格，节约成本至少40％。 | ||
| 搜索关键词： | 制备 荧光 分析 玻璃 玻璃化 试剂 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
1、一种制备X荧光分析用玻璃熔片的玻璃化试剂，其特征在于，由无水四硼酸锂或无水四硼酸锂和偏硼酸锂的混合物与硼酸组成。
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