[发明专利]一种存储器在板测试方法无效
| 申请号： | 200810236587.0 | 申请日： | 2008-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN101770812A | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | 崔强;彭刚锋;叶关山 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业第一集团公司第六三一研究所 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 康凯 |
| 地址： | 710068 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种存储器测试方法，包括依次进行的先测试控制线、花码数据输入法测试、01步进法测试以及March算法测试步骤。本发明要求首先应具有高时效性，其次应对线路故障有高故障覆盖率，再次应兼顾存储器芯片自身故障的检测；同时覆盖了存储器芯片自身故障和电路板线路故障，在测试需求和测试耗费间取得了较好的平衡，有较好的故障覆盖率和时效性。适合用于各种存储器的在板测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器在板测试方法，其特征在于，包括以下步骤：1)先测试控制线，如果不通过故障信息显示和处理，测试结果输出到测试报告管理程序，测试结束；2)如果通过进行花码数据输入法测试，对数据线和地址线进行初测，其故障的规律可以为故障芯片定位提供帮助；3)再利用01步进法将测试故障定位到具体那根数据线和地址线，还测试部分覆盖的存储单元，如果不通过故障信息显示和处理，测试结果输出到测试报告管理程序，测试结束；4)如果通过再通过March算法测试对存储器的全地址空间进行全面测试，无论通过还是不通过均故障信息显示和处理，测试结果输出到测试报告管理程序，测试结束。
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