[发明专利]颗粒粒度测试样品池无效
| 申请号： | 200810238536.1 | 申请日： | 2008-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN101435761A | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 任中京 | 申请（专利权）人： | 任中京 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/51 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 | 代理人： | 姜 明 |
| 地址： | 250100山东省济*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供一种颗粒粒度测试样品池，属于颗粒粒度测试设备配件领域，其结构包括一能透光的样品池体，样品池体为中空结构，其横截面为边数不小于四的偶数多边形，且至少有一组对边平行的工作面，在池体的工作面上至少附设有一个凸透镜。使用时，在凸透镜焦平面设有条形阵列光电探测器，经扩束汇聚的激光束从无透镜的平面入射样品池，颗粒的前向散射信息由通常的半圆环探测器检测，颗粒的侧向散射与后向散射信息由条带状阵列探测器检测，由此获得全方位颗粒散射的信息。本发明的颗粒粒度测试样品池与现有技术相比，其测试的最大散射角为135度，测试范围内无死角；且管道横截面大，流量大，因而利于在线粒度测试，可大大提高激光粒度仪的分析精度。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 粒度 测试 样品 | ||
【主权项】：
1、颗粒粒度测试样品池，包括能透光的样品池体，其特征在于，样品池体为中空结构，其横截面为边数不小于四的偶数多边形，且至少有一组对边平行的工作面，在池体的工作面上至少附设有一个凸透镜。
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