[发明专利]阿达玛变换近红外光谱仪检测光的方法及光谱仪有效
| 申请号： | 200810239143.2 | 申请日： | 2008-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN101419164A | 公开（公告）日： | 2009-04-29 |
| 发明（设计）人： | 张新民 | 申请（专利权）人： | 北京华夏科创仪器技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张 涛 |
| 地址： | 100085北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于光谱分析技术。为了降低阿达玛变换近红外光谱仪的体积，本发明提供了一种阿达玛变换近红外光谱仪检测光的方法，包括透过样品的入射光被准直后投射到光栅的步骤、投射到光栅的光发生第一次衍射并经准直后投射到微镜阵列的步骤，经微镜阵列调制并反射的光被准直后投射到所述光栅进行第二次衍射步骤，聚焦步骤A第二次衍射的光到检测器步骤。本发明可以广泛应用于物质的近红外光谱分析领域。 | ||
| 搜索关键词： | 阿达玛 变换 红外 光谱仪 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、阿达玛变换近红外光谱仪检测光的方法，包括入射光被准直后投射到光栅的步骤、投射到光栅的光发生第一次衍射并经准直后投射到微镜阵列的步骤，其特征在于还包括如下步骤：A、经微镜阵列调制并反射的光被准直后投射到所述光栅进行第二次衍射；B、聚焦步骤A第二次衍射的光到检测器；所述准直和聚焦步骤采用凹镜反射实现；所述微镜阵列采用反射式微镜阵列，所述光栅采用反射式光栅。
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