[发明专利]一种制备硅纳米结构的方法无效

专利信息
申请号: 200810240932.8 申请日: 2008-12-24
公开(公告)号: CN101759140A 公开(公告)日: 2010-06-30
发明(设计)人: 张仁平;张杨;杨富华 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: B82B3/00 分类号: B82B3/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周国城
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及纳米电子技术中的半导体微纳加工技术领域,公开了一种制备硅纳米结构的方法,包括:制作进行电子束曝光所需的版图;对需要制作硅纳米结构的基片进行清洗、烘干;将基片热氧化生成二氧化硅掩蔽层;在基片上匀涂电子束曝光胶;按要求剂量用电子束曝光图形;显影和定影;电子束二次曝光;干法刻蚀二氧化硅;干法刻蚀硅,形成硅纳米结构。利用本发明,采用电子束曝光和干法刻蚀技术能够制作出100nm以下形状规则、边缘光滑、排列紧密、最精细处可达30nm的硅纳米结构。
搜索关键词: 一种 制备 纳米 结构 方法
【主权项】:
一种制备硅纳米结构的方法,其特征在于,该方法包括:制作进行电子束曝光所需的版图;对需要制作硅纳米结构的基片进行清洗、烘干;将基片热氧化生成二氧化硅掩蔽层;在基片上匀涂电子束曝光胶;按要求剂量用电子束曝光图形;显影和定影;电子束二次曝光;干法刻蚀二氧化硅;干法刻蚀硅,形成硅纳米结构。
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