[发明专利]像素单元的FD有源区结构及其制备方法及CMOS图像传感器有效
申请号: | 200810241085.7 | 申请日: | 2008-12-25 |
公开(公告)号: | CN101459188A | 公开(公告)日: | 2009-06-17 |
发明(设计)人: | 郭同辉 | 申请(专利权)人: | 北京思比科微电子技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/822 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郑立明 |
地址: | 100085北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种像素单元的FD有源区结构,属于CMOS图像传感器领域。该FD有源区结构包括:P型硅半导体衬底上形成P型阱,P型阱上设有N型硅半导体注入层,所述N型硅半导体注入层中包含有N-Plus离子注入层,所述N型硅半导体注入层周围设有P型硅半导体注入层,所述P型硅半导体注入层用于隔离N型硅半导体注入层与器件的浅槽隔离区STI,所述N型硅半导体注入层上设有P型硅半导体Pin层,掩埋型接触孔底部穿过P型硅半导体Pin层与N型硅半导体注入层电连接。通过在像素单元FD有源区的N型硅半导体注入层中加入N-Plus注入层,在N型硅半导体注入层周围增加P型硅半导体注入层,在N型硅半导体注入层上增加Pin注入层等几中结构的改变,有效减小FD有源区漏电流的产生。 | ||
搜索关键词: | 像素 单元 fd 有源 结构 及其 制备 方法 cmos 图像传感器 | ||
【主权项】:
1、一种像素单元的FD有源区结构,其特征在于,包括:P型硅半导体衬底上形成P型阱,P型阱上设有N型硅半导体注入层,所述N型硅半导体注入层中包含有N-Plus离子注入层,所述N型硅半导体注入层周围设有P型硅半导体注入层,所述P型硅半导体注入层与N型硅半导体注入层形成反向P-N结,用于隔离N型硅半导体注入层与器件的浅槽隔离区STI,所述N型硅半导体注入层上设有P型硅半导体Pin层,掩埋型接触孔底部穿过P型硅半导体Pin层与N型硅半导体注入层电连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的