[发明专利]像素单元的FD有源区结构及其制备方法及CMOS图像传感器有效

专利信息
申请号: 200810241085.7 申请日: 2008-12-25
公开(公告)号: CN101459188A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 郭同辉 申请(专利权)人: 北京思比科微电子技术有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L21/822
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司 代理人: 郑立明
地址: 100085北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种像素单元的FD有源区结构,属于CMOS图像传感器领域。该FD有源区结构包括:P型硅半导体衬底上形成P型阱,P型阱上设有N型硅半导体注入层,所述N型硅半导体注入层中包含有N-Plus离子注入层,所述N型硅半导体注入层周围设有P型硅半导体注入层,所述P型硅半导体注入层用于隔离N型硅半导体注入层与器件的浅槽隔离区STI,所述N型硅半导体注入层上设有P型硅半导体Pin层,掩埋型接触孔底部穿过P型硅半导体Pin层与N型硅半导体注入层电连接。通过在像素单元FD有源区的N型硅半导体注入层中加入N-Plus注入层,在N型硅半导体注入层周围增加P型硅半导体注入层,在N型硅半导体注入层上增加Pin注入层等几中结构的改变,有效减小FD有源区漏电流的产生。
搜索关键词: 像素 单元 fd 有源 结构 及其 制备 方法 cmos 图像传感器
【主权项】:
1、一种像素单元的FD有源区结构,其特征在于,包括:P型硅半导体衬底上形成P型阱,P型阱上设有N型硅半导体注入层,所述N型硅半导体注入层中包含有N-Plus离子注入层,所述N型硅半导体注入层周围设有P型硅半导体注入层,所述P型硅半导体注入层与N型硅半导体注入层形成反向P-N结,用于隔离N型硅半导体注入层与器件的浅槽隔离区STI,所述N型硅半导体注入层上设有P型硅半导体Pin层,掩埋型接触孔底部穿过P型硅半导体Pin层与N型硅半导体注入层电连接。
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