[发明专利]诊断辐射EMI机理的实验台及辐射EMI机理的简易诊断方法有效

专利信息
申请号: 200810242655.4 申请日: 2008-12-30
公开(公告)号: CN101458283A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 赵阳;褚家美;颜伟;李世锦;罗永超 申请(专利权)人: 南京师范大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 南京知识律师事务所 代理人: 程化铭
地址: 210046江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种诊断辐射EMI机理的实验台及简易诊断方法,实验台由工作台、电场探头和磁场探头组、频谱分析仪和计算机构成;电场探头和磁场探头组可以在工作台上方三维移动;电场探头和磁场探头组交替连接频谱分析仪输入端,频谱分析仪的输出端接计算机。诊断步骤:将被测电路平面区域划分为若干辐射干扰单元;确定辐射电/磁场精测频段。辐射干扰单元辐射干扰精测,根据辐射电/磁场精测频段调整频谱分析仪的扫描频段,分别用电/磁场探头依次测量各辐射干扰单元的电平值,计算各辐射干扰单元的辐射电/磁场强度。本发明实验台结构简单、成本低。本发明方法能快速简便地检测出电子系统的辐射EMI噪声种类,为辐射EMI噪声抑制方案提供理论依据。
搜索关键词: 诊断 辐射 emi 机理 实验 简易 方法
【主权项】:
1、诊断辐射EMI机理的实验台,由工作台、电场探头和磁场探头组、频谱分析仪和计算机构成;其特征是:工作台采用绝缘材质,工作台台面设有门字形探头支架,探头支架可沿工作台台面边缘水平行走;门字形探头支架的横梁上设有探头支杆,探头支杆可沿支架横梁水平移动和垂直移动;电场探头和磁场探头组设于探头支杆下端部;电场探头和磁场探头组交替连接频谱分析仪输入端,频谱分析仪的输出端接计算机。
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