[发明专利]一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法无效

专利信息
申请号: 200810246534.7 申请日: 2008-12-29
公开(公告)号: CN101441160A 公开(公告)日: 2009-05-27
发明(设计)人: 钱建强;刘文良;李渊;李英姿 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N13/16 分类号: G01N13/16
代理公司: 北京永创新实专利事务所 代理人: 周长琪
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像后,将当前AFM图像进行等比例缩为0-255之间整数的数学信息图像A,然后对该数学信息图像A进行8×8的图块分割,对分割后的图块C采用DCT进行处理获得频域图块D,对频域图块采用量化表进行量化获得量化图块E,对每一个量化图块采用8为步进进行二维遍历得到分化图块F,然后对每一个分化图块求取压缩率,选取压缩率最小的分化图块即为求得的子区域;最后应用该子区域进行进一步扫描成像,从而获得更高分辨率的图像,通过反复调用该方法可以使原子力显微镜实现连续自动成像。
搜索关键词: 一种 适用于 原子 显微镜 连续 成像 自动 选区 方法
【主权项】:
1、一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,其特征在于:通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像,将当前AFM图像进行等比例缩为0-255之间整数的数学信息图像A,然后对该数学信息图像A进行8×8的图块分割,对分割后的图块C采用DCT进行处理获得频域图块D,对频域图块采用量化表进行量化获得量化图块E,对每一个量化图块采用8为步进的二维遍历得到分化图块F,然后对每一个分化图块依据压缩率公式求取压缩率,选取压缩率最小的分化图块即为求得的子区域;最后应用该子区域进行进一步扫描成像,从而获得更高分辨率的图像,通过反复调用该方法能够实现原子力显微镜的连续自动成像;PZero表示分化图块F中为零的数值的个数,PTotal表示分化图块F中数值的总个数。
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