[发明专利]二进制数是否为三的倍数的检验方法和装置及检验芯片有效
| 申请号： | 200810247401.1 | 申请日： | 2008-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN101464788A | 公开（公告）日： | 2009-06-24 |
| 发明（设计）人： | 邹杨 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F7/38 | 分类号： | G06F7/38;G06F1/03 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾惠忠 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种二进制数是否为三的倍数的检验方法，包括：判断二进制数是否大于指定位数N(N＞1)，若是，将二进制数拆分成低位组和高位组两部分；预置一查找表，查找表包括从0至2N中所有能够被3整除的数；若奇数位的各位数字之和减去偶数位的各位数字之和的差值大于0，则将低位组表示的数减去差值，获取执行结果；若小于0，将低位组表示的数作为被减数，减去将差值的绝对值左移一位后，获取二进制执行结果；在查找表中查找二进制执行结果，如查找到，确定二进制数为三的倍数。通过本发明，避免了现有技术中，检验二进制数是否为三的倍数时，数制转换复杂、减法器位宽较长，迭代次数多的缺陷，进而用最少的资源，最快的效率实现判断。 | ||
| 搜索关键词： | 二进制 是否 倍数 检验 方法 装置 芯片 | ||
【主权项】：
1、一种二进制数是否为三的倍数的检验方法，其特征在于，该检验方法包括：判断所述二进制数是否大于指定位数N，若是，将所述二进制数拆分成低位组和高位组两部分，其中，所述指定位数N为大于1的整数；预置一查找表，所述查找表包括从0至2N中所有能够被3整除的数；确定所述高位组部分中的奇数位与偶数位，分别计算所述奇数位、所述偶数位的各位数字之和；判断所述奇数位的各位数字之和减去偶数位的各位数字之和的差值是否大于0，若是，则将所述低位组表示的数减去所述差值，获取执行结果；若否，将所述低位组表示的数减去所述差值的绝对值左移一位后，获取二进制执行结果；在所述查找表中查找所述二进制执行结果，如查找到，确定所述二进制数为三的倍数。
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