[发明专利]一种光谱标准配制方法无效
申请号: | 200810247481.0 | 申请日: | 2008-12-31 |
公开(公告)号: | CN101769833A | 公开(公告)日: | 2010-07-07 |
发明(设计)人: | 钱伯仁;潘元海;王长华;墨淑敏 | 申请(专利权)人: | 北京有色金属研究总院 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N21/17 |
代理公司: | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人: | 程凤儒 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种光谱标准配制方法,该方法包括以下步骤:(1)以纯碳粉为基体,以碳标中所含金属杂质元素计算,向其中加入相应杂质元素氧化物,配制1wt%的主标准点,然后用纯碳粉依次冲稀得到一系列碳标;(2)将所要分析的样品分别与步骤(1)中的一系列碳标及纯碳粉按重量比1∶1混合,制得一套样品标准和样品空白;将样品标准和样品空白磨成粉末并混合均匀进行摄谱;测量分析线的黑度S,用S-logC绘制工作曲线;用直线拉直法分析低含量元素,用计算法估算较高含量杂质。本发明利用普适标准-碳标,得到一套样品分析用标准,完全适合日常合金样品中杂质的分析,不受样品基体的限制,也无需各种化工工艺提纯光谱基体,该标准稳定性好,分析结果误差小,因而简单、方便,应用范围广泛。 | ||
搜索关键词: | 一种 光谱 标准 配制 方法 | ||
【主权项】:
一种光谱标准配制方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:(1)确定所要待分析的样品中金属杂质,根据所要分析的样品中金属杂质制备碳标,以纯碳粉为基体,以碳标中所含各金属杂质元素计算,向其中加入相应各金属杂质元素氧化物,配制各金属杂质含量为1wt%的主标准点,然后用纯碳粉依次冲稀为0.1~0.0001wt%中的若干个不同的金属杂质含量,得到一系列碳标;(2)将所要分析的样品分别与步骤(1)中的一系列碳标按重量比1∶1混合,制得一系列样品标准。
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