[发明专利]一种光谱标准配制方法无效

专利信息
申请号: 200810247481.0 申请日: 2008-12-31
公开(公告)号: CN101769833A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 钱伯仁;潘元海;王长华;墨淑敏 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N21/17
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 程凤儒
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种光谱标准配制方法,该方法包括以下步骤:(1)以纯碳粉为基体,以碳标中所含金属杂质元素计算,向其中加入相应杂质元素氧化物,配制1wt%的主标准点,然后用纯碳粉依次冲稀得到一系列碳标;(2)将所要分析的样品分别与步骤(1)中的一系列碳标及纯碳粉按重量比1∶1混合,制得一套样品标准和样品空白;将样品标准和样品空白磨成粉末并混合均匀进行摄谱;测量分析线的黑度S,用S-logC绘制工作曲线;用直线拉直法分析低含量元素,用计算法估算较高含量杂质。本发明利用普适标准-碳标,得到一套样品分析用标准,完全适合日常合金样品中杂质的分析,不受样品基体的限制,也无需各种化工工艺提纯光谱基体,该标准稳定性好,分析结果误差小,因而简单、方便,应用范围广泛。
搜索关键词: 一种 光谱 标准 配制 方法
【主权项】:
一种光谱标准配制方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:(1)确定所要待分析的样品中金属杂质,根据所要分析的样品中金属杂质制备碳标,以纯碳粉为基体,以碳标中所含各金属杂质元素计算,向其中加入相应各金属杂质元素氧化物,配制各金属杂质含量为1wt%的主标准点,然后用纯碳粉依次冲稀为0.1~0.0001wt%中的若干个不同的金属杂质含量,得到一系列碳标;(2)将所要分析的样品分别与步骤(1)中的一系列碳标按重量比1∶1混合,制得一系列样品标准。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京有色金属研究总院,未经北京有色金属研究总院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810247481.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top