[发明专利]电测治具有效
| 申请号： | 200810300248.4 | 申请日： | 2008-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN101498762A | 公开（公告）日： | 2009-08-05 |
| 发明（设计）人： | 王鸣;李文钦 | 申请（专利权）人： | 富葵精密组件（深圳）有限公司;鸿胜科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02;G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518103广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电测治具，其包括设置有测试探针的电测盘及连接于电测盘的感应装置。该测试探针用于与待电测物体的电测部接触。该感应装置包括感应探针及与感应探针相连的感应器。该感应探针设置于电测盘，用于在测试过程中与待电测物体接触，以供感应器判断待电测物体是否与测试探针相接触。该电测治具可防止测试探针压伤待电测物体，影响待电测物体的表面平整度，从而确保产品的品质。 | ||
| 搜索关键词： | 电测治具 | ||
【主权项】：
【权利要求1】一种电测治具，其包括设置有测试探针的电测盘，所述测试探针用于在测试过程中与待电测物体的电测部接触，其特征在于，所述电测治具进一步包括连接于电测盘的感应装置，所述感应装置包括感应探针及与感应探针相连的感应器，所述感应探针设置于电测盘，用于在测试过程中与待电测物体接触，以供感应器判断待电测物体是否与测试探针相接触。
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