[发明专利]计算机开关机测试电路无效
| 申请号： | 200810301426.5 | 申请日： | 2008-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN101576840A | 公开（公告）日： | 2009-11-11 |
| 发明（设计）人： | 范利平;卢洪浪;刘玉林 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种计算机开关机测试电路，用于测试待测计算机的开关机性能，包括一与所述待测计算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组，所述计算机开关机测试电路还包括一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片，所述控制芯片内烧录有测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号至所述开关模组以控制所述开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态，所述测试程序设定所述高/低电平信号的切换频率及保持时间。本发明计算机开关机电路可按照测试要求自动地对计算机进行开关机测试，测试效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 计算机 开关机 测试 电路 | ||
【主权项】：
1.一种计算机开关机测试电路，用于测试待测计算机的开关机性能，包括一与所述待测计算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组，其特征在于：所述计算机开关机测试电路还包括一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片，所述控制芯片内烧录有测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号至所述开关模组以控制所述开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态，所述测试程序设定所述高/低电平信号的切换频率及保持时间。
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