[发明专利]一种防止手机测试中过电流破坏的系统及方法无效

专利信息
申请号: 200810302638.5 申请日: 2008-07-08
公开(公告)号: CN101626586A 公开(公告)日: 2010-01-13
发明(设计)人: 余国吉 申请(专利权)人: 深圳富泰宏精密工业有限公司;奇美通讯股份有限公司
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00;H04W88/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种防止手机测试中过电流破坏的方法,该方法包括如下步骤:提供一个测试治具和与之相连的电源供应器;在所述测试治具的正极和电源供应器的正极之间串联一个过电流保护元件;使所述测试治具与待测手机相连,以进行手机测试;当通过所述过电流保护元件的电流急速升高而大于或等于设定的阀值时,所述过电流保护元件自动切断所述电源供应器至所述测试治具的通路。本发明还提供一种防止手机测试中过电流破坏的系统。利用本发明可以防止手机测试中产生的过电流对待测手机内部零件的破坏。
搜索关键词: 一种 防止 手机 测试 电流 破坏 系统 方法
【主权项】:
1.一种防止手机测试中过电流破坏的系统,该系统包括一个测试治具和与之相连的电源供应器,所述测试治具连接待测手机,其特征在于,所述测试治具的正极和电源供应器的正极之间串联有一个过电流保护元件。
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