[发明专利]电路测试装置的电路板结构无效
| 申请号： | 200810304544.1 | 申请日： | 2008-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN101676731A | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | 洪干耀 | 申请（专利权）人： | 汉民测试系统科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R1/067;G01R1/073;G01R31/28 |
| 代理公司： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 | 代理人： | 何 为 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种电路测试装置的电路板结构，主要系于电路板的至少一侧表面设有凸部，于该凸部表面设有数内接点，而于该电路板的另一侧表面则设有数外接点，且于电路板内设有导电线路衔接于各内、外接点之间，使各外接点可经由导线与外部的测试装置形成电连接，而各内接点可经由导体与待测试电路的各接点形成电连接，藉以形成一结构简化、讯号传导效率佳的测试电路板结构。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 装置 电路板 结构 | ||
【主权项】：
1.一种电路测试装置的电路板结构，其特征在于，该电路板的至少一侧表面设有突出的凸部，于该凸部表面设有数内接点，该数内接点可经由数导体与待测试电路各接点形成电连接，而于电路板的另一侧表面则设有数外接点，该数外接点可经由数导线与外部测试装置形成电连接，且于该电路板内设有导电线路衔接于各内、外接点之间。
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