[发明专利]测定钼铁中杂质元素砷、锡、锑的方法有效
| 申请号： | 200810306460.1 | 申请日： | 2008-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN101435775A | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 刘金祥 | 申请（专利权）人： | 二重集团（德阳）重型装备股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所 | 代理人： | 武森涛 |
| 地址： | 618000四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测定钼铁中砷、锡、锑的方法，属于分析化学中的定量分析领域。本发明测定钼铁中砷、锡、锑的方法是将钼铁试样用盐酸硝酸混合酸溶解，在电感耦合等离子体原子发射光谱仪上，使用标准系列溶液绘制工作曲线，由计算机程序校正方式扣除元素间干扰和背景干扰，测定试样溶液中的痕量有害杂质元素砷、锡、锑。该方法试样预处理过程不需要进行分离、富集等繁琐的操作，只需将钼铁试样溶液吸入仪器进行测定，数十秒钟后就可以同时显示试样中痕量砷、锡、锑的百分含量。用这种方法可以直接测定的含量范围为：砷0.005％～1.00％、锡0.001％～0.20％、锑0.001％～0.10％。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 钼铁中 杂质 元素 方法 | ||
【主权项】：
【权利要求1】测定钼铁中砷、锡、锑的方法，其特征在于：将钼铁试样用盐酸硝酸混合酸溶解，在电感耦合等离子体原子发射光谱仪上，使用标准系列溶液绘制工作曲线，由计算机程序校正方式扣除元素间干扰和背景干扰，测定试样溶液中的痕量有害杂质元素砷、锡、锑。
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