[实用新型]基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置无效
| 申请号： | 200820035122.4 | 申请日： | 2008-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN201184867Y | 公开（公告）日： | 2009-01-21 |
| 发明（设计）人： | 宋瑛林;王煜;李云波;杨俊义;王玉晓 | 申请（专利权）人： | 苏州大学 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陶海锋 |
| 地址： | 215123江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置，入射激光通过分束镜分成两束，一束为探测光进入测量光路，通过4f系统后由CCD相机采集；另一束为参考光，进入参考光路；样品位于测量光路4f系统的傅立叶平面，其特征在于：所述参考光路是4f系统，且参考光路的出射方向和测量光路的出射方向平行，参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。本实用新型可以由同一个激光脉冲获得非线性光斑和线性的参考光斑，在获得样品上脉冲激光能量的同时可以获得代表入射面上入射脉冲空间分布情况，可以在光斑空间分布不稳定的情况下测量介质的非线性折射率，光路简单，测试速度快，结果准确，数据处理方便。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 相位 相干 成像 系统 测量 材料 光学 非线性 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置，入射激光通过分束镜分成两束，一束为探测光进入测量光路，通过4f系统后由CCD相机采集；另一束为参考光，进入参考光路；样品位于测量光路4f系统的傅立叶平面，其特征在于：所述参考光路是4f系统，且参考光路的出射方向和测量光路的出射方向平行，参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。
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