[实用新型]双光路去噪声载波-包络相位测量装置无效
申请号: | 200820059891.8 | 申请日: | 2008-06-18 |
公开(公告)号: | CN201269780Y | 公开(公告)日: | 2009-07-08 |
发明(设计)人: | 宋立伟;冷雨欣;张春梅;王建良;李小芳;李儒新;徐至展 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02;G01J11/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种双光路去噪声载波—包络相位测量装置,构成包括:沿待测激光束的前进方向上依次是第一透镜、白宝石片、第二透镜和第一分束片,第一分束片将激光分为透射光束和反射光束,所述的透射光束,经延时器延时后被第二分束片反射;所述的反射光束由第一反射镜反射后经第三透镜、BBO晶体、第四透镜,被第二反射镜反射,透过所述的第二分束片,与该第二分束片的反射光束合并成一束射入光谱仪的狭缝中,该光谱仪与计算机连接,所述的白宝石片位于第一透镜的焦点,所述的BBO晶体位于所述的第三透镜的焦点后,所述的第一分束片、第二分束片、第一反射镜和第二反射镜与射入的光束呈45°。本实用新型具有干涉条纹清晰、测量方便、快捷、准确的特点。 | ||
搜索关键词: | 双光路去 噪声 载波 包络 相位 测量 装置 | ||
【主权项】:
1、一种双光路去噪声载波—包络相位测量装置,特征是其构成包括:沿待测激光束的前进方向上依次是第一透镜(1)、白宝石片(2)、第二透镜(3)和第一分束片(4),该第一分束片(4)将激光分为透射光束和反射光束,所述的透射光束,经延时器(5)延时后被第二分束片(11)反射;所述的反射光束由第一反射镜(6)反射后经第三透镜(7)、BBO晶体(8)、第四透镜(9),被第二反射镜(10)反射,透过所述的第二分束片(11),与该第二分束片(11)的反射光束合并成一束,射入光谱仪(12)的狭缝中,该光谱仪(12)与计算机(13)连接,所述的白宝石片(2)位于第一透镜(1)的焦点,所述的BBO晶体(8)位于所述的第三透镜(7)的焦点后1厘米,所述的第一分束片(4)、第二分束片(11)、第一反射镜(6)和第二反射镜(10)与射入的光束呈45°。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200820059891.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:耐高温高倍率变焦距电视镜头
- 下一篇:简易抄平器