[实用新型]一种可控硅检测装置有效
| 申请号： | 200820093722.6 | 申请日： | 2008-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN201218833Y | 公开（公告）日： | 2009-04-08 |
| 发明（设计）人： | 罗秋华;张永清 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/27 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518118广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型适用于可控硅检测领域，提供了一种可控硅检测装置，包括电源电路，与待检测的可控硅连接，为待检测的可控硅提供导通电压；触发电路，与待检测的可控硅连接，为待检测的可控硅提供触发电压；以及检测结果指示装置，串接在所述电源电路与待检测的可控硅之间，指示待检测的可控硅的检测结果。本实用新型结构简单，易于制作，造价低，使用方便，具有多种检测功能，可以方便、迅速、可靠地检测可控硅的好坏，给可控硅设备的维修带来很大方便。采用该检测装置可以直接对设备中的可控硅进行检测，不需要将可控硅取出，检测结果可以直观指示，不会导致检测失误。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可控硅 检测 装置 | ||
【主权项】：
1、一种可控硅检测装置，其特征在于，所述装置包括：电源电路，与待检测的可控硅连接，为待检测的可控硅提供导通电压；触发电路，与待检测的可控硅连接，为待检测的可控硅提供触发电压；以及检测结果指示装置，串接在所述电源电路与待检测的可控硅之间，指示待检测的可控硅的检测结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于比亚迪股份有限公司，未经比亚迪股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200820093722.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
