[实用新型]射频同轴连接器信号测试连接装置有效
| 申请号： | 200820095616.1 | 申请日： | 2008-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN201242552Y | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 张拖 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市永杰专利商标事务所 | 代理人： | 刘 敏 |
| 地址： | 518057广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种射频同轴连接器信号测试连接装置，包括安装块、探针组a和探针组b和射频电缆，所述安装块上加工有两个通孔用以分别压装探针组a和探针组b，所述射频电缆包括射频线缆和射频同轴连接器，射频同轴连接器焊接在射频线缆的一端，所述射频线缆另一端的线芯与探针组a连接，另一端的屏蔽层与探针组b连接。本实用新型克服了现有技术方案存在的或效率低下、或性能不稳、或成本高昂等缺点，由于探针的特性，使得连接可自动化进行，测试效率得到保障；由于探针直接探接射频同轴连接器的管脚，稳定可靠，测试性能得到保障；由于普通探针组价格相当低廉，从而极大的降低了成本，并且制作简单、安装方便。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 同轴 连接器 信号 测试 连接 装置 | ||
【主权项】：
1、一种射频同轴连接器信号测试连接装置，其特征在于：所述射频同轴连接器信号测试连接装置包括安装块、探针组a和探针组b和射频电缆，所述安装块上加工有两个通孔用以分别压装探针组a和探针组b，所述射频电缆包括射频线缆和射频同轴连接器，射频同轴连接器焊接在射频线缆的一端，所述射频线缆另一端的线芯与探针组a连接，另一端的屏蔽层与探针组b连接。
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