[实用新型]一种高密度测试探针无效
| 申请号： | 200820121191.7 | 申请日： | 2008-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN201212895Y | 公开（公告）日： | 2009-03-25 |
| 发明（设计）人： | 沈芳珍;周燕明 | 申请（专利权）人： | 沈芳珍 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 315336浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种高密度测试探针，包括针体，所述针体的前端为用于接触测试点的探测头，所述针体的后端为扁平片，所述针体的前端的探测头呈圆锥状，所述针体后端的扁平片外缘呈弧形。在使用时，需要测试仪相配合，测试仪内设有竖直放置的压簧，测试探针后端的扁平片卡设在压簧上，测试探针的探测点接触测试点，压簧与测试仪内的测试设备连接。本实用新型提供了一种针对高密度测试点的高密度测试探针，采用针体后端的扁平片与测试仪内的压簧配合，不再需要导线连接，简化了连接结构，又能防止导线的缠绕。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高密度 测试 探针 | ||
【主权项】：
1. 一种高密度测试探针，包括针体，所述针体的前端为用于接触测试点的探测头，其特征在于：所述针体的后端为扁平片。
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