[实用新型]光学膜厚测试仪有效
| 申请号： | 200820141227.8 | 申请日： | 2008-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN201318934Y | 公开（公告）日： | 2009-09-30 |
| 发明（设计）人： | 魏杨;薛尚清;张博;谢亮 | 申请（专利权）人： | 四川南光电气有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 成都立信专利事务所有限公司 | 代理人： | 冯忠亮 |
| 地址： | 610100四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型为光学膜厚测试仪，解决已有膜厚测试仪使用调节不便，稳定性差，精度差的问题。主输入信号依次经串联的差分放大器、陷波器、主信号放大器、低通滤波器和偏置叠加器输入模数转换器、模数转换器的输出接逻辑可编程器件，参考输入信号经参考信号处理电路输入逻辑可编程器件，逻辑可编程器件的输出与单片机连接，单片机与显示器连接。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测试仪 | ||
【主权项】：
1、光学膜厚测试仪，其特征在于主输入信号依次经串联的差分放大器、陷波器、主信号放大器、低通滤波器和偏置叠加器输入模数转换器、模数转换器的输出接逻辑可编程器件，参考输入信号经参考信号处理电路输入逻辑可编程器件，逻辑可编程器件的输出与单片机连接，单片机与显示器连接。
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