[实用新型]一种双曲晶体X荧光光谱分析仪有效
申请号: | 200820144935.7 | 申请日: | 2008-12-25 |
公开(公告)号: | CN201436585U | 公开(公告)日: | 2010-04-07 |
发明(设计)人: | 宋欣;姜文贵;宋晓琨;张晓颖;李海建;杨伟清;张磊;张朝捷 | 申请(专利权)人: | 中国建筑材料检验认证中心;北京逸东机电技术开发有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100024*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种双曲晶体X荧光光谱分析仪,其特征在于包括分光测量室、抽真空部件、样品室、送样器、X射线激发源、供电电源、信息采集与处理器、仪器系统控制器及上位分析计算机;优越性在于采用四自由度联动机构,并以该机构为技术核心,把有限、分立波长的弯曲晶体X荧光光谱分析仪提升为连续衍射分光与探测的X荧光光谱分析仪,从而扩大弯曲晶体X荧光光谱分析仪的分析范围。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶体 荧光 光谱分析 | ||
【主权项】:
一种双曲晶体X荧光光谱分析仪,其特征在于它包括分光测量室、抽真空部件、样品室、送样器、X射线激发源、供电电源、信息采集与处理器、仪器系统控制器及上位分析计算机;所说的分光测量室依真空管路接口与抽真空部件对接,依X射线入射法兰接口与样品室对接,依电源与信息交换接口连通供电电源,依电缆通讯线分别连通信息采集与处理器和仪器系统控制器;所说的样品室分别连接送样器和X射线激发源;所说的信息采集与处理器依信息与控制线连通仪器系统控制器;所说的仪器系统控制器依标准接口连通上位分析计算机。
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