[实用新型]光学检测治具有效
| 申请号： | 200820146003.6 | 申请日： | 2008-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN201285345Y | 公开（公告）日： | 2009-08-05 |
| 发明（设计）人： | 王凯;钟剑;陈泳翔 | 申请（专利权）人： | 厦门京东方电子有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J1/04 |
| 代理公司： | 厦门市新华专利商标代理有限公司 | 代理人： | 朱 凌 |
| 地址： | 361100福建省厦门*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光学检测治具，该治具本体上设有多个用于固定背光源产品的定位槽，各定位槽纵横排列，且各定位槽的横向间距相同，纵向间距也相同。这种多工位的治具，一次校对初始被检点，就可检测多个产品，省去了对每个产品都需进行初始点校对的步骤，可大幅提高工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 | ||
【主权项】：
1、一种光学检测治具，其特征在于：该治具本体上设有多个用于固定背光源产品的定位槽，各定位槽纵横排列，且各定位槽的横向间距相同，纵向间距也相同。
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