[实用新型]用于光学平板的高精度量具无效
| 申请号： | 200820146086.9 | 申请日： | 2008-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN201293626Y | 公开（公告）日： | 2009-08-19 |
| 发明（设计）人： | 陈本荣;邓全清;黄国章 | 申请（专利权）人： | 阿石托隆(福建)光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 350000福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于光学平板的高精度量具，其包括靠体、底板和两组基准块，靠体为一长条形状并固定于底板的一侧表面上，一组基准块-基准块A及基准块B设于底板的一侧表面上部，另一组基准块-基准块C及基准块D，设于底板的一侧表面下部，各基准块与底板之间设有可使基准块上下左右滑动的滑动键槽，在两组基准块间设有镜片放置区，基准块A、D和基准块B、C之间有一定的间隙，靠体的一侧面设计为基准面E，基准块A一侧面设计为基准面A1，基准块B一侧面设计为基准面B1，基准块C一侧面设计为基准面C1，基准块D一侧面设计为基准面D1，基准面A1、B1、C1、D1、E均为平面。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 平板 高精度 量具 | ||
【主权项】：
1.用于光学平板的高精度量具，其特征在于，所述的用于光学平板的高精度量具包括靠体、底板和两组基准块，靠体为一长条形状并固定于底板的一侧表面上，一组基准块--基准块A及基准块B设于底板的一侧表面上部，另一组基准块--基准块C及基准块D，设于底板的一侧表面下部，基准块与底板之间设有可使基准块上下左右滑动的滑动键、槽，在两组基准块之间设有镜片放置区，基准块A、D和基准块B、C之间有一定的间隙，靠体的一侧面设计为基准面E，基准块A一侧面设计为基准面A1，基准块B一侧面设计为基准面B1，基准块C一侧面设计为基准面C1，基准块D一侧面设计为基准面D1，基准面A1、B1、C1、D1、E均为平面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿石托隆(福建)光学科技有限公司，未经阿石托隆(福建)光学科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200820146086.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
