[实用新型]一种发光二极管测试装置无效
| 申请号： | 200820147063.X | 申请日： | 2008-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN201293821Y | 公开（公告）日： | 2009-08-19 |
| 发明（设计）人： | 李好平;田东伟 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01J1/00;G01M11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518119广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种发光二极管测试装置，包括检测电路板，其特征在于，该测试装置还包括传导发光二极管光信号的光导纤维和用于接收发光二极管光信号的光敏三极管，所述光敏三极管安装于所述检测电路板上。本实用新型的利用光导纤维将发光二极管发出的光传递给光敏三极管，其通过检测电路检测光敏三极管的电信号，判断其发光二极管的好坏，其准确性和效率都大大地得到了提高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光二极管 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种发光二极管测试装置，包括检测电路板，其特征在于，该测试装置还包括传导发光二极管光信号的光导纤维和用于接收发光二极管光信号的光敏三极管，所述光敏三极管安装于所述检测电路板上。
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