[实用新型]射频识别综合测试仪器有效
| 申请号： | 200820153834.6 | 申请日： | 2008-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN201259674Y | 公开（公告）日： | 2009-06-17 |
| 发明（设计）人： | 陈柯;邵晖;何婷婷 | 申请（专利权）人： | 上海聚星仪器有限公司 |
| 主分类号： | G06K7/00 | 分类号： | G06K7/00 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 | 代理人： | 张 磊 |
| 地址： | 201203上海市浦东新区张东路*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本测试仪器属于射频识别技术领域，具体涉及一种具有实时应答功能的射频识别综合测试仪器，由控制器、中频、基带处理器、射频上变频器、射频下变频器组成，控制器的输出端接中频、基带处理器的输入端，中频、基带处理器的输出端接射频上变频器输入端，射频上变频器的输出端输出信号，射频下变频器的输入端接被测设备返回信号，射频下变频器的输出端接中频、基带处理器的输入端。本测试仪器主要用于读卡机和标签的协议一致性测试和性能测试，通过软件实现射频识别协议，运用模块化仪器集成专属于射频识别测试的测试系统，同时运用中频、基带处理器板载FPGA实现第二代超高频射频识别标准微秒级实时应答。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 识别 综合测试 仪器 | ||
【主权项】：
1、一种射频识别综合测试仪器，由控制器(1)、中频、基带处理器(2)、射频上变频器(3)、射频下变频器(4)组成，其特征在于控制器(1)的输出端接中频处理器(2)的输入端，中频、基带处理器(2)的输出端接射频上变频器(3)的输入端，射频上变频器(3)的输出端接被测设备，射频下变频器(4)的输入端接被测设备，射频下变频器(4)的输出端接中频、基带处理器(2)的输入端。
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