[实用新型]一种半导体致冷组件的试验装置无效
| 申请号： | 200820202564.3 | 申请日： | 2008-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN201281735Y | 公开（公告）日： | 2009-07-29 |
| 发明（设计）人： | 鲍德君 | 申请（专利权）人： | 海信科龙电器股份有限公司;海信容声(广东)冰箱有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 广州粤高专利代理有限公司 | 代理人： | 林丽明 |
| 地址： | 528303广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体致冷组件的试验装置，其包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器，水温调控系统将半导体致冷组件控制于一温度范围内，试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪检测试验结果。本实用新型可靠性高、试验结果准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 致冷 组件 试验装置 | ||
【主权项】：
1、一种半导体致冷组件的试验装置，其特征在于包括内装有水的试验容器、对试验容器水的温度进行调控的水温调控系统、置于试验容器内的半导体致冷组件、与水温调控系统及半导体致冷组件连接的试验控制器，水温调控系统将试验中的半导体致冷组件控制于一温度范围内，试验控制器对半导体致冷组件进行极性切换、通电及断电循环控制，并利用一电脑测试仪检测试验结果。
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