[实用新型]铜带厚度测量仪有效
| 申请号： | 200820225392.1 | 申请日： | 2008-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN201352109Y | 公开（公告）日： | 2009-11-25 |
| 发明（设计）人： | 封全虎 | 申请（专利权）人： | 芜湖众源金属带箔有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 | 代理人： | 杨晋弘 |
| 地址： | 241008安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种铜带厚度测量仪，包括低相干度光源、二个干涉仪、三组传光光纤、光电接收器和信号处理器，所述的二个干涉仪对称设置于被测铜带的两侧，铜带的两个对应表面分别作为两个干涉仪的反射面，所述的低相干度光源经第一组传光光纤射至第一干涉仪，第一干涉光经第二组传光光纤至第二干涉仪，第二干涉光经第三组传光光纤、光电接收器至信号处理器；具有的有益效果是，测量精度高、测量速度快，由于是非接触式测量，对铜带表面没有任何损伤，特别适合不透明且两面都有较强反射度的带材的厚度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 厚度 测量仪 | ||
【主权项】：
1、铜带厚度测量仪，包括低相干度光源、二个干涉仪、三组传光光纤、光电接收器和信号处理器，其特征在于：二个干涉仪对称设置于被测铜带的两侧，铜带的两个对应表面分别作为两个干涉仪的反射面，所述低相干度光源经第一组传光光纤射至第一干涉仪，第一干涉光经第二组传光光纤至第二干涉仪，第二干涉光经第三组传光光纤、光电接收器至信号处理器。
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