[发明专利]形成贯穿衬底的互连的方法无效
申请号: | 200880002536.X | 申请日: | 2008-01-16 |
公开(公告)号: | CN101595554A | 公开(公告)日: | 2009-12-02 |
发明(设计)人: | T·I·卡明斯 | 申请(专利权)人: | 惠普开发有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/28 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;李家麟 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 在形成至少一个贯穿衬底的互连的方法的一个实施例中,提供具有第一表面(202)和相对的第二表面(204)的半导体衬底(200)。在半导体衬底中形成至少一个开口(210),从第一表面延伸到半导体衬底内的中间深度。该至少一个开口由底部(216)部分地限定。在底部上提供至少一个金属催化剂纳米颗粒(220)。在金属催化剂纳米颗粒促进半导体材料(222)的沉积的情况下,在该至少一个开口内沉积导电材料。可以从第二表面去除半导体衬底的材料,以露出填充该至少一个开口的导电材料的一部分(图3K)。在另一实施例中,不使用纳米颗粒,而是选择导电材料来选择性地沉积在部分地限定该至少一个开口的底部上。 | ||
搜索关键词: | 形成 贯穿 衬底 互连 方法 | ||
【主权项】:
1.一种形成至少一个贯穿衬底的互连(110、111、112、126)的方法,该方法包括:提供具有第一表面(202)和相对的第二表面(204)的半导体衬底(200);在所述半导体衬底中形成至少一个开口(210),所述至少一个开口从所述第一表面延伸到所述半导体衬底内的中间深度,所述至少一个开口由底部(216)部分地限定;在所述底部上提供至少一个金属催化剂纳米颗粒(220);在所述金属催化剂纳米颗粒促进导电材料(222)的沉积的条件下,在所述至少一个开口内沉积导电材料;从所述第二表面去除所述半导体衬底的材料,以露出填充所述至少一个开口的所述导电材料(图3K中的222)的一部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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