[发明专利]用于光子计数探测器的事件共享恢复有效
| 申请号： | 200880003815.8 | 申请日： | 2008-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN101600974A | 公开（公告）日： | 2009-12-09 |
| 发明（设计）人： | R·普罗克绍 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 邬少俊;王 英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 光子计数探测器可能受到脉冲共享效应和荧光光子产生的影响，这些效应可能会导致测量信号劣化。根据本发明的示范性实施例，提供了一种探测器装置，其适于通过比较相邻单元的探测事件进行并发探测和校正，由此实现并发事件识别，并继之以个别的并发校正。为了减少并发探测和每个探测器装置的对应单元数量，可以采用特定的探测器单元几何形状。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光子 计数 探测器 事件 共享 恢复 | ||
【主权项】：
1、一种用于执行并发探测和校正的探测器装置(200)，所述探测器装置(200)包括：第一探测器单元(201)和第二探测器单元(202)，所述第一探测器单元适于探测第一脉冲，产生第一探测数据，所述第二探测器单元适于探测第二脉冲，产生第二探测数据；以及并发探测和校正单元(203)，耦合到所述第一和第二探测器单元并适于探测所述第一和第二脉冲的并发；其中，如果探测到并发，则所述并发探测和校正单元(203)还适于对所述第一探测数据进行校正。
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