[发明专利]等离子体处理装置无效

专利信息
申请号: 200880005558.1 申请日: 2008-02-13
公开(公告)号: CN101632327A 公开(公告)日: 2010-01-20
发明(设计)人: 柴田哲司;田口典幸;中园佳幸 申请(专利权)人: 松下电工株式会社
主分类号: H05H1/24 分类号: H05H1/24;B08B7/00;H01L21/304;H01L21/3065
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种等离子体处理装置(A),其通过放电使等离子体生成用气体(G)激活,并将该被激活的等离子体生成用气体(G)喷射在待处理物(H)上进行处理。在由陶瓷烧结体构成的绝缘基板(1)上埋设导电层(2)而形成覆盖电极(3)。将多个覆盖电极(3、3…)相对置地配置,使覆盖电极(3、3)之间形成放电空间(4)。具有电源(5),其用于对导电层(2)外加电压,使在放电空间(4)产生放电。因为不进行陶瓷材料的热喷涂,因此可以实现覆盖电极(3)的材料的低成本或制造工艺的简化。与陶瓷热喷涂的覆膜相比,陶瓷烧结体的空隙率小且致密,因此在放电时不容易发生绝缘破坏。
搜索关键词: 等离子体 处理 装置
【主权项】:
1.一种等离子体处理装置,用于通过放电使等离子体生成用气体激活,并将该被激活的等离子体生成用气体喷射在待处理物上进行处理,其特征为:在由陶瓷烧结体构成的绝缘基板上埋设导电层而形成覆盖电极,并将多个覆盖电极相对置地配置而将覆盖电极之间形成为放电空间,且具有电源,其用于对导电层外加电压,使在放电空间产生放电。
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