[发明专利]用于光学相干断层扫描的系统和方法以及用于校准这种系统的方法

摘要

本发明涉及用于光学相干断层扫描的一种系统以及相应的方法，其具有一个干涉仪(10)，该干涉仪用于输出用来照射一个样本(1)的光。该干涉仪(10)包含有一个分束器(13)和至少一个反射器(12)，该反射器到该分束器(13)的光学距离(I)是可变化的，并具有一个样本物镜，通过该样本物镜由该干涉仪(10)所输出的光被聚焦到位于该样本(1)中的一个焦点上，还具有一个探测器(30)，用于探测由该样本(1)所反射的光。为了更简单且更快速地记录该样本(1)的尽可能清晰的图像，规定，在改变该反射器(12)到该分束器(13)的光学距离期间，分别在该样本(1)的多个不同深度上反射的光由该探测器(30)来探测，并在探测分别在该样本(1)的不同深度上反射的光期间，该样本物镜的成像特性以如下方式而被改变，即该焦点位于该样本(1)的相应深度的范围中。

主权项

1.用于光学相干断层扫描的系统，其具有-干涉仪(10)，该干涉仪用于输出用来照射样本(1)的光(4)，其中该干涉仪(10)包括分束器(13)和至少一个反射器(12)，该反射器到分束器(13)的光学距离(l)能够变化，-样本物镜(41)，通过该样本物镜把由该干涉仪(10)所输出的光(4)聚焦到位于该样本(1)中的焦点(F)上，以及-探测器(30)，该探测器用于探测由该样本(1)所反射的光。其特征在于，-在该反射器(12)到该分束器(13)的光学距离(l)的变化期间，分别在该样本(1)的多个不同深度(T1-T3)中反射的光被该探测器(30)探测，并且-在探测分别在该样本(1)的不同深度(T1-T3)中反射的光期间，该样本物镜(41)的成像特性以如下方式而被改变：该焦点(F)位于该样本(1)的相应深度(T1-T3)的范围(K)中。