[发明专利]具有X射线荧光及电火花发射光谱分析功能的仪器有效
| 申请号： | 200880005918.8 | 申请日： | 2008-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN101636651A | 公开（公告）日： | 2010-01-27 |
| 发明（设计）人： | 拉维瑟卡·耶勒佩迪;李·格罗德津斯 | 申请（专利权）人： | 赛默飞世尔科技公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N21/67;G01N21/71 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩 龙;阎娬斌 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种同时具有XRF和电火花发射光谱功能的分析仪器。在一个优选实施例中，便携式XRF设备由插接站耦合到分析仪器上。用X射线束辐射样品的第一表面，探测并分析样品发射的X射线辐射荧光以得到元素组分数据。该仪器还包括邻近样品第二表面的电火花源和感应电火花受激材料发出的辐射的探测器。所组合的仪器能得到由XRF和电火花发射光谱生成的补偿后的元素组分数据，而不需要将一个样品在两个分离的仪器间运送。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 射线 荧光 电火花 发射光谱分析 功能 仪器 | ||
【主权项】：
1、一种分析仪器，包括：平台，用于支撑一个具有不同朝向的第一表面和第二表面的样品；X射线源，放置成用X射线束辐射样品第一表面；至少一个X射线探测器，设置成探测样品响应X射线束的辐射而发射的X射线荧光；火花电极，放置成邻近所述第二表面，在所述火花电极上施加一个可控电压，使所述第二表面上或邻近所述第二表面处产生一个放电来激发所述样品的原子；以及，至少一个发射探测器，用于探测受激原子发射的光线；其中，所述样品的元素组分可同时被X射线荧光技术和电火花发射光谱技术分析。
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