[发明专利]用于组织的光学分析的方法和设备有效
| 申请号： | 200880006248.1 | 申请日： | 2008-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN101622566A | 公开（公告）日： | 2010-01-06 |
| 发明（设计）人： | B·H·W·亨德里克斯;A·T·M·范戈夫 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G02B21/00 | 分类号： | G02B21/00;A61B5/00;A61B1/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 康正德;谭祐祥 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种组织(70)的分析方法和设备，包括：-用在聚焦区域(40)聚焦的光照射组织(70)；-将从聚焦区域(40)返回的光采集到第一探测设备(100A)中，该第一探测设备(100A)被设置为在第一探测区域(140A)上通过共焦光谱法仅采集从聚焦区域(40)返回的光，以生成包含关于组织(70)的光学属性的信息的第一信号；-将从聚焦区域(40)散射到至少第二区域(60)、从第二区域(60)返回的光收集到第二探测设备(100B)中，该第二探测设备(100B)被设置为在第二探测区域(140B)上仅采集从第二区域(60)返回的光，以生成第二信号，-使用第一和第二信号以获得关于在聚焦区域(40)和第二区域(60)之间的区域中的组织(70)的散射和/或吸收系数的信息。由于本发明，能够收集关于组织的散射和/或吸收属性的信息。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 组织 光学 分析 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、分析组织(70)的方法，其包括：-用在聚焦区域(40)聚焦的光照射组织(70)；-将从聚焦区域(40)返回的光采集到第一探测设备(100A)中，所述第一探测设备(100A)被设置为在第一探测区域(140A)上通过共焦光谱法仅采集从聚焦区域(40)返回的光，以生成包含关于组织的光学属性的信息的第一信号；-将从聚焦区域(40)散射到至少第二区域(60)并从第二区域(60)返回的光收集到第二探测设备(100B)中，所述第二探测设备(100B)被设置为在第二探测区域(140B)上仅采集从第二区域(60)返回的光，以生成第二信号，-使用第一和第二信号以获得关于在聚焦区域(40)和第二区域(60)之间的区域中的组织(70)的散射和/或吸收系数的信息。
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