[发明专利]气体分析器有效
申请号: | 200880006881.0 | 申请日: | 2008-04-02 |
公开(公告)号: | CN101627302A | 公开(公告)日: | 2010-01-13 |
发明(设计)人: | 青木润次;北浦宏和;布姆赛力克·赛义德 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场STEC |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 | 代理人: | 黄依文 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的气体分析器包含:离子化部(211),用以离子化试样气体;第1离子检测部(212)及第2离子检测部(213),夹着所述离子化部(211)而设置,并且离开所述离子化部(211)起算的距离相互不同,以检测来自所述离子化部(211)的离子;过滤器部(214),设在所述离子化部(211)及所述第1离子检测部(212)之间,选择性地使来自所述离子化部(211)的离子通过;运算装置(3),利用通过所述第1离子检测部(212)所得的试样气体的第1全压TP1及通过所述第2离子检测部(213)所得的试样气体的第2全压TP2,修正通过所述第1离子检测部(212)所得的由所述过滤器部(214)所选择的特定成分的分压PP1;且在利用四极质谱分析法等的气体分析器中,可维持分辨率,并即使在测定值无法追随周围气体压力变化的区域也可进行修正。 | ||
搜索关键词: | 气体 分析器 | ||
【主权项】:
1.一种气体分析器,包含:离子化部,用以离子化试样气体;第1离子检测部及第2离子检测部,夹着所述离子化部而设置,并且离开所述离子化部的距离相互不同,以检测来自所述离子化部的离子;过滤器部,设在所述离子化部及所述第1离子检测部之间,选择性地使来自所述离子化部的离子通过;及运算装置,利用通过所述第1离子检测部所得的试样气体的第1全压及通过所述第2离子检测部所得的试样气体的第2全压,修正通过所述第1离子检测部所得的由所述过滤器部所选择的特定成分的分压。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社堀场STEC,未经株式会社堀场STEC许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880006881.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有用来反射光的像素布线的图像传感器
- 下一篇:结晶组合物、晶片和半导体结构