[发明专利]X射线检查装置和生产系统有效

专利信息
申请号: 200880008008.5 申请日: 2008-03-07
公开(公告)号: CN101632014A 公开(公告)日: 2010-01-20
发明(设计)人: 株本隆司;广瀬修 申请(专利权)人: 株式会社石田
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种X射线检查装置(10),包括传送带(50)、辨别部(12b)、判定部(12c)、运转控制部(121),所述X射线检查装置一边搬送物品一边对物品照射X射线来对物品进行检查。传送带(50)用于搬送物品。辨别部(12b)用于辨别物品是试件还是商品。运转控制部(121)在由辨别部(12b)辨别物品是商品时被设定为对该商品是否合格进行判定的通常模式,在由辨别部(12b)辨别物品是试件时,被设定为对X射线检查装置状态进行检查的测试模式。由此,能够对X射线检查装置的状态进行检查而不停止商品的生产。
搜索关键词: 射线 检查 装置 生产 系统
【主权项】:
1.一种X射线检查装置,用于一边对物品进行搬送一边向所述物品照射X射线来对所述物品进行检查,包括:搬送装置,用于对所述物品进行搬送;辨别装置,用于辨别所述物品是试件还是商品;和运转控制装置,在由所述辨别装置辨别为所述物品是商品时,将X射线检查装置的运转设定为判定该商品是否合格的通常模式,在由所述辨别装置辨别为所述物品是试件时,将X射线检查装置的运转设定为对X射线检查装置的状态进行检查的测试模式。
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