[发明专利]自测试结构和测试数字接口的方法无效
| 申请号： | 200880008799.1 | 申请日： | 2008-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN101636922A | 公开（公告）日： | 2010-01-27 |
| 发明（设计）人： | L·B·鲁斯;P·凯勒赫尔;D·麦克斯文尼 | 申请（专利权）人： | 飞思卡尔半导体公司 |
| 主分类号： | H04B1/38 | 分类号： | H04B1/38;H04B1/48 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 刘 倜 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种数字接口(22)包括自测试结构(56)。该结构(56)包括发射部(52)和具有相关器(68)的接收部(36)。测试该接口(22)的方法(114)包括：将接收部(36)与发射部(52)耦合，以及以高数据速率将测试数据结构(86)从发射部(52)传递到接收部(36)。测试数据结构(86)包括预先定义的同步码型(88)、报头(90)和有效载荷(92)。接收部(36)检测该同步码型(88)并且在相关器(68)处执行时间帧同步(148)。当同步(148)成功时，接收部(36)解码(154、162)报头(90)和有效载荷(92)。如果时间帧同步(148)和解码(154、162)成功，则以低数据速率输出验证指示符(100)用于外部观察。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结构 数字 接口 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试具有发射部和接收部的数字接口的方法，所述接收部包括相关器，并且所述方法包括：将所述发射部的输出与所述接收部的输入耦合；将测试数据结构从所述发射部传递到所述接收部；在所述相关器处检测所述测试数据结构；在所述接收部处解码所述测试数据结构；和当所述测试数据结构被成功解码时，产生至少一个验证指示符用于所述数字接口外部的观察，所述验证指示符指示所述数字接口正确运行。
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