[发明专利]半导体材料处理设备的镀铝部件和制造该部件的方法有效

专利信息
申请号: 200880010698.8 申请日: 2008-03-27
公开(公告)号: CN101647098A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 伊恩·J·肯沃西;凯利·W·方;伦纳德·J·夏普莱斯 申请(专利权)人: 朗姆研究公司
主分类号: H01L21/306 分类号: H01L21/306
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余 刚;吴孟秋
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开半导体材料处理设备的镀铝部件。该部件包括基片和形成在该基片至少一个表面上的可选的中间层。该中间层包括至少一个表面。铝镀层形成在该基片上,或在该可选的中间层上。其上形成该铝镀层的表面是导电的。阳极氧化层可选地形成在该铝镀层上。该铝镀层或可选的该阳极氧化层包括该部件的工艺暴露表面。还公开包括一个或多个镀铝部件的半导体材料处理设备、处理基片的方法和制作该镀铝部件的方法。
搜索关键词: 半导体材料 处理 设备 镀铝 部件 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体材料处理设备的抗蚀剂剥除室的镀铝部件,该部件包括:基片,包括至少第一表面;在至少该基片的第一表面上的可选的中间层,该中间层包括至少第二表面;在该基片的第一表面上或在该可选的中间层的第二表面上的高纯度、电沉积铝镀层,该铝镀层包括,以wt.%计,至少99.00%Al和/或≤0.10%总的过渡元素,其中其上设有该镀铝层的该第一表面或该第二表面是导电表面,该铝镀层包括该部件的工艺暴露外表面。
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