[发明专利]低功耗扫描测试技术及装置

摘要

以下所公开的是在集成电路测试期间降低功率消耗的方法、装置、和系统的典型实施例。本发明技术的实施例可用于提供一个低功耗测试方案，并可和各种压缩硬件结构集成在一起(例如，一个嵌入式确定性测试(“EDT”)结构)。在本发明的实施例中，集成电路包含可编程测试激励选择器、可编程扫描使能电路、可编程时钟使能电路、可编程移位使能电路、和/或可编程复位使能电路。同时公开的是测试矢量生成方法，这些方法可用于生成测试矢量并与本发明的任一实施例一同使用。

主权项

1.一种集成电路，其包括：一第一测试激励源，其被配置以生成原始测试矢量值；一第二测试激励源，其被配置以生成一常量值；一控制器，其被配置以生成控制信号；和一测试激励选择器，其含有连接到第一测试激励源、第二测试激励源和控制器的输入，其进一步含有连接到集成电路中一组扫描链的输出，其被配置以根据控制器的控制信号，在其每个相应的输出中选择性地输出第一测试激励源的原始测试矢量值或第二测试激励源的常量值。