[发明专利]用于控制与用于呈现各种类型的光电子信息的装置的操作有关的多个参数的通用测试系统无效
申请号: | 200880014078.1 | 申请日: | 2008-03-21 |
公开(公告)号: | CN101682798A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | A·热尔曼 | 申请(专利权)人: | EADS测试服务公司 |
主分类号: | H04N17/04 | 分类号: | H04N17/04;G09G3/00 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 郭思宇 |
地址: | 法国埃*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 根据本发明的测试系统利用由计算机系统远程控制的数字照相装置(4),所述计算机系统包括连接到人机接口(21)并通过远程传输装置连接到要被测试的呈现装置的处理器(20)。该装置还被用来将照相装置(4)和要被测试的呈现装置(5)相对。所述处理器被编程以执行照相装置的自动定位阶段,物镜的自动聚焦阶段和信息呈现装置的测试阶段。 | ||
搜索关键词: | 用于 控制 呈现 各种 类型 光电子 信息 装置 操作 有关 参数 通用 测试 系统 | ||
【主权项】:
1.一种能够对与各种类型的光电子信息呈现装置的操作有关的多个参数执行控制的测试系统,所述系统包括安装在定位装置上的照相装置,所述定位装置允许所述照相装置居中面对每个呈现装置,其特征在于包括传统类型的单个数字照相装置(4)作为照相装置,该单个数字照相装置(4)包括具有可变焦距的物镜,该照相装置能够被包括处理器(20)和人机接口(21)的计算机系统远程控制,该照相装置包括物镜,该物镜的聚焦可以借助于遥测装置而自动地执行,所述处理器(20)另外借助于远距离传输装置耦合到要被测试的呈现装置(5),并且,处理器(20)被编程以便执行至少一个序列,该序列包括以下操作阶段:-自动定位阶段,其包括:处理器(20)控制呈现装置(5)显示和投映定位标记、对照相装置获得的图像进行分析和处理器(20)根据所述分析的结果对定位装置进行控制,-校准阶段,包括调整物镜的焦距以便由呈现装置(5)生成的图像占据由照相装置产生的照片的预定区域,-用于自动地使物镜聚焦以便获得呈现装置(5)所呈现的信息的具有良好清晰度的照片的阶段,-测试阶段,在其间,处理器(20)执行至少一个测试序列,特别地包括比色测试、颜色均匀度测试、亮度测量测试、用于检测故障像素的测试和/或图像中的单位图案的重叠的测试,所述测试中的每一个包括由处理器(20)向呈现装置(5)应用可以包括要显示的信息和/或旨在修改所述装置(5)的工作参数的控制的激励,然后,在应用所述激励之后,用照相装置(4)拍摄数字照片并由处理器(20)来分析该照片以便确定并检验呈现装置的至少一个工作参数,对于将要被检验的呈现装置的每个参数,用适当激励重复此测试序列,-根据由此获得的照片的参数分析来表征呈现装置。
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