[发明专利]处理器性能监测无效
| 申请号： | 200880015791.8 | 申请日： | 2008-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN101681289A | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | D·A·卢克;P·L·维塔莱 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 酆 迅;李峥宇 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及计算机架构，并且更具体地，涉及评估处理器的性能。性能监测器可以置于处理器的L2高速缓存套组中。该性能监测器可以监测L2高速缓存访问以及通过将一个或多个处理器内核耦合至L2高速缓存套组的总线从所述处理器内核接收性能数据。在一个实施方式中，总线可以包括用于将性能数据从处理器内核传送至性能监测器的附加线路。 | ||
| 搜索关键词： | 处理器 性能 监测 | ||
【主权项】：
1.一种用于收集性能数据的方法，所述方法包括：通过位于处理器的L2高速缓存套组中的性能监测器来监测L2高速缓存访问，以捕获与所述L2高速缓存访问有关的性能数据；通过将所述处理器的至少一个处理器内核耦合至所述L2高速缓存套组的总线，由所述性能监测器从所述至少一个处理器内核接收性能数据；以及基于至少一个所述L2高速缓存访问以及从所述至少一个处理器内核接收到的所述性能数据，来计算一个或多个性能参数。
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